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產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
高低溫冷熱沖擊試驗箱 電子元器件測試是一種專門用于模擬快速溫度變化的可靠性環(huán)境試驗設(shè)備。其核心功能是在最短時間內(nèi),使測試樣品承受高溫與低溫之間的急劇轉(zhuǎn)換,以檢驗電子元器件在溫度劇變環(huán)境下的耐受能力及性能穩(wěn)定性。
產(chǎn)品型號:TSD-80F-2P
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2026-01-15
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高低溫冷熱沖擊試驗箱,又稱溫度沖擊試驗箱或熱沖擊試驗箱,是一種專門用于模擬快速溫度變化的可靠性環(huán)境試驗設(shè)備。其核心功能是在最短時間內(nèi),使測試樣品承受高溫與低溫之間的急劇轉(zhuǎn)換,以檢驗電子元器件在溫度劇變環(huán)境下的耐受能力及性能穩(wěn)定性。
該設(shè)備主要用于評估電子元器件、PCB電路板、集成電路、模塊、汽車電子、電子等產(chǎn)品在突然遭遇高低溫環(huán)境時的物理和電氣性能變化。通過加速試驗,可以在短時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)由材料不匹配、焊接缺陷、封裝密封性不足等引起的潛在故障,是產(chǎn)品可靠性篩選和品質(zhì)驗證的關(guān)鍵手段。
主流的試驗箱通常采用“三箱式"(預(yù)冷區(qū)、預(yù)熱區(qū)、測試區(qū))或“兩箱式"(高溫箱、低溫箱)結(jié)構(gòu)。測試時,樣品通過一個提籃或移動平臺,在高溫室和低溫室之間進行快速、自動轉(zhuǎn)換。轉(zhuǎn)換時間通常在數(shù)秒至一分鐘內(nèi)完成,從而實現(xiàn)溫度從高(如+150°C)到極低(如-65°C)的瞬時沖擊。
快速溫變:采用高效的加熱與制冷系統(tǒng)(如復(fù)疊式壓縮機或液氮輔助),實現(xiàn)溫度的急速升降。
高精度控制:采用PID+SSR智能控制,確保高低溫槽及測試區(qū)的溫度精度和均勻性。
自動化測試:通過觸摸屏人機界面,可預(yù)設(shè)多達數(shù)百個沖擊循環(huán),全自動運行,并記錄實時數(shù)據(jù)與曲線。
安全保護:具備完善的超溫保護、壓縮機延時保護、漏電保護等多重安全機制。
耐久設(shè)計:內(nèi)膽采用高品質(zhì)不銹鋼,保溫層加厚,確保設(shè)備長期穩(wěn)定運行。
轉(zhuǎn)換時間極短:空氣式轉(zhuǎn)換時間通?!?0秒,大限度模擬真實沖擊。
寬廣的溫度范圍:高溫可達+200°C以上,低溫可至-80°C或更低,滿足各類嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。
低熱負(fù)荷設(shè)計:優(yōu)化的風(fēng)道與結(jié)構(gòu)設(shè)計,確保樣品在轉(zhuǎn)換過程中承受真實溫度沖擊,而非僅受箱內(nèi)空氣影響。
符合國際標(biāo)準(zhǔn):嚴(yán)格遵循IEC 60068-2-14、MIL-STD-883、JESD22-A104等電子行業(yè)通用測試標(biāo)準(zhǔn)。
溫度范圍:高溫區(qū):+60°C ~ +200°C;低溫區(qū):-10°C ~ -65°C 或更低
沖擊范圍:-40°C ~ +150°C(常用)
轉(zhuǎn)換時間:≤10秒(試樣從高溫到低溫或反之,空氣式)
溫度恢復(fù)時間:≤5分鐘(恢復(fù)至設(shè)定溫度)
溫度波動度:±0.5°C
溫度均勻度:±2.0°C
內(nèi)箱尺寸:可根據(jù)需求定制(如40L, 80L, 100L等)






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